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半导体电子产品的保管
SUPER DRY是20多年以前,受托于各大企业,为解决半导体工厂中,如微裂缝(micro-cracks)等许多原因不明的不良现象而研制。随着科技进步,了解若SMD(Surface Mount Devices)吸湿率达至0.1wt%或印刷电路板(PrintedCircuit Boards)的吸湿率达至0.2wt%的时候,微裂缝或分层(Delamination)等的不良现象就会出现。凭着长年累月的经验及卓越技术,SUPER DRY与AUTO DRY能有效改善多种因湿气而造成产品不良的问题,得到全球超过25个国家1500名以上的企业用户信赖支持。
IPC/JEDEC处理SMD标准(J-STD-033A)
IC封条(Integrated Circuit Package)中出现微裂痕的分析图
无铅对策
SUPER DRY在半导体工厂的使用形式
SUPER DRY在世界各地,如欧美及亚洲的半导体工厂中,有效预防IC封袋及印刷电路板等的因湿气而造成的不良问题,提高产品质素,同时亦是加热过程中无铅对策的必需品。
实际工程的使用例
防湿包装拆封后IC封装的保管
实装工程中印刷电路板(单面/双面)的保管
检查过程中再加工电路板的保管
1)  IC封条

防湿包装拆封后CSP,BGA,QFP的低湿保管
(托盘及卷轴上的保管)
程式设计时PLD的低湿保管

适合机种
  [Hyper 系列]    [02 系列]

IC封条
2)  印刷电路板(PCB)

有机多层薄板及印刷配线板的防湿除湿
制造工程中的pattern film等的低湿保管

适合机种
  [02 系列]
印刷电路板(PCB)
3)  砂晶图片(Silicon Wafer)

防氧化
防尘清洁管理

适合机种
  [Hyper 系列]
砂晶图片(Silicon Wafer)
4)  陶瓷(Ceramics)

陶瓷板,陶瓷冷仪器及陶瓷素材(粉末)的除湿保管

适合机种
  [Hyper 系列]
陶瓷(Ceramics)
5)  液晶玻璃基片(LCG Board)

清净后常温干燥的保管(保持玻璃光滑及防止表面再粘上尘垢)

适合机种
  [Hyper 系列]
液晶玻璃基片(LCG Board)
6)  光学纤维(Optical Fiber),CCD

微透镜(Mocrolens)的低湿保管
不宜高温处理仪器的长期除湿保管

适合机种
  [Hyper 系列]    [02 系列]
光学纤维(Optical Fiber),CCD
7)  石英振动器(Crystal Resonator)

石英片,电极材料粘接材料的低湿保管

适合机种
  [Hyper 系列]
石英振动器(Crystal Resonator)
8)  其他电子零件

导线架(Lead Frame)及连接线(Bendling Wire)的防氧化保管

适合机种
  [02 系列]

 
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IPC/JEDEC处理SMD标准(J-STD-033A)
最新的IPC/JEDEC(美国联合电子机械技术委员会)订立以下处理SMD的标准细则。
2-4湿气敏感水平 必须保管于湿度10%RH以下。除湿包装拆封后的SMD,若暴露于30℃ 60%RH的环境下,只要放入湿度10%RH以下的防潮柜,经过暴露时间*5倍的除湿保管,便可回复SMD原来的Floor life.
5-5a湿气敏感水平 必须保管于湿度5%RH以下。除湿包装拆封后的SMD,若暴露于30℃ 60%RH的环境下,只要放入湿度10%RH以下的防潮柜,经过暴露时间*10倍的除湿保管,便可回复SMD原来的Floor life.
参考:除湿包装拆封后IC封装的Floor Life
湿度敏感水平
Floor Life*
1 30℃ 85%RH以下的环境没有任何Floor Life
2 1年
2a 4星期
3 168小时
4 72小时
5 48小时
5a 24小时
6 必须进行烘烤
除湿封装拆封后SMD于30℃ 以下65%RH环境下的水份吸收寿命
SUPER DRY(超低湿防潮柜)提高产品优良率的最佳选择
除湿包装拆封后的SMD,若不存放于SUPER DRY进行除湿防湿的保管,产品不良率随着暴露时间而大幅增加。尤其为了预防那些以精密仪器也无法探测的潜在不良现象,SUPER DRY的低湿保管更是不可缺少。 湿度保管的范列
SUPER DRY(超低湿防潮柜)提高最有效经济的低湿保管
使用简单方便:SUPER DRY是电器制品,不需任何特别安装工程,只需打开电源,便可马上使用。
专家意见
Robert Rowland:对湿气敏感的零件

与氮气装置的比较

M湿气敏感度/防潮性包装/胶面贴装元器件的处理(由英特尔提供)
产品系列 湿度设定及其他功能
Hyper 系列 1-50%RH(除湿器*2)
适用于柜门需1小时或2小时内开关一次除湿保管
02 系列 2-50%RH(除湿器*1)
适用于每天一至两次以下柜门开关的长期除湿保管
 
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IC封装(Intergrated Circuits Packagers)中出现微裂痕的分析图

 

回焊(reflow)之前

回焊(reflow)中
IC封装

BGA
CSP
QFP
TQFP
一般保管
空气中的水分侵入树脂中
   
加热初期,微量的水蒸气压力造成树脂介面的分层现象。 水蒸气的压力随着回焊工程增加,使树脂膨胀。   水蒸气透过封装裂痕排出,造成产品不良现象。
IPC/JEDEC封装中的裂痕,最初不会造成严重问题。一旦腐蚀性的物质渗入这些裂痕时,就会腐蚀破坏IC封装。
SUPER DRY 保管
除去内部的微量水分  
IC规格建议10%RH以下的低湿保管。  
SUPER DRY严格控制湿度,有效避免生产不良现象,确保产品质素优良。SUPER DRY严格控制湿度,有效避免生产不良现象,确保产品质素优良。
在生上线上,建议使用除湿力强的Hyper系列;若考虑除湿速度,或使用于Taping封装的除湿,则建议简易操作系列。
无铅对策
实装工程中,湿气使SMD焊接时的耐热性下降,造成回焊(Reflow)过程中的热破坏现象。
今后随着模组(Module)l零件,及无铅焊接使用的增加,更严禁的管理是必要的。
饱和蒸汽压力
根据上图,焊接温度越高,蒸汽压力会越高,包装上的裂痕因此而产生(腐食性物质透漏这些裂痕破坏机体电路晶片chip)。利用SUPER DRY超低湿保管,可把IC封装除湿至接近0%RH,有效预防工程不良的问题。

产品结构样式因技术改良而可能做出调整
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Hyper 系列 (1-50%RH) 02 系列 (2-50%RH)
Tape Feeder 1 系列 (1-50%RH) 配件
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